AFM এবং SEM মধ্যে পার্থক্য
এএফএম বনাম এসএএম
ছোট পৃথিবীর অন্বেষণ করা প্রয়োজন, দ্রুত সম্প্রতি নতুন প্রযুক্তি যেমন ন্যানো প্রযুক্তি, মাইক্রোবায়োলজি এবং ইলেকট্রনিক্স। যেহেতু মাইক্রোস্কোপ হচ্ছে এমন একটি টুল যা ছোট বস্তুর বৃহদায়তন ছবি সরবরাহ করে, তাই রেজোলিউশন বৃদ্ধি করার জন্য মাইক্রোস্কোপির বিভিন্ন কৌশল উন্নয়ন করতে অনেক গবেষণা করা হয়। যদিও প্রথম মাইক্রোস্কোপ একটি অপটিক্যাল সমাধান যেখানে লেন্স ইমেজ ম্যাগাজিন ব্যবহৃত হয়, বর্তমান উচ্চ রেজল্যুশন মাইক্রোস্কোপ বিভিন্ন পন্থা অনুসরণ। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (এসইএম) এবং পারমাণবিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এএফএম) যেমন দুটি ভিন্ন পদ্ধতির উপর ভিত্তি করে স্ক্যান করা হয়।
পারমাণবিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এএফএম)
এএফএম পৃষ্ঠের প্রকৃতি অনুযায়ী নমুনা এবং টিপের পৃষ্ঠাকে স্ক্যান করার জন্য একটি টিপ ব্যবহার করে। এই ধারণাটি এমন একটি পথ যা একটি অন্ধ ব্যক্তি তার পৃষ্ঠের উপর তার আঙ্গুল চালানোর মাধ্যমে একটি পৃষ্ঠাকে বোঝায়। এএফএম প্রযুক্তিটি গার্ড বিনিগ এবং ক্রিস্টোফ গেরবার দ্বারা 1986 সালে চালু করা হয়েছিল এবং এটি 1989 থেকে বাণিজ্যিকভাবে পাওয়া যায়।
টিপ হীরক, সিলিকন এবং কার্বন ননোটব্যাশগুলির মত বস্তুর তৈরি এবং ক্যান্টাইলারের সাথে সংযুক্ত। ইমেজিং রেজল্যুশন রেজল্যুশন বেশী টিপ। বর্তমান এএফএমগুলির অধিকাংশই একটি ন্যানোট্রাক রেজোলিউশন রয়েছে। ক্যান্টাইলারের স্থানচ্যুতি পরিমাপের জন্য বিভিন্ন ধরনের পদ্ধতি ব্যবহার করা হয়। সর্বাধিক সাধারণ পদ্ধতি একটি লেজারের মরীচি ব্যবহার করে যা ক্যান্টাইলারকে প্রতিফলিত করে যাতে প্রতিফলিত মরীচির বিচ্যুতিটি ক্যান্টিলার অবস্থানের পরিমাপ হিসাবে ব্যবহার করা যায়।
যেহেতু এএফএম যন্ত্রের সাহায্যে অনুভূতি অনুধাবনের পদ্ধতিটি ব্যবহার করে, সেটি সমস্ত পৃষ্ঠাসমূহ অনুসন্ধান করে নমুনাটির একটি 3D চিত্র তৈরি করতে সক্ষম। এটি ব্যবহারকারীদের টিপ ব্যবহার করে নমুনা পৃষ্ঠে পরমাণু বা অণুগুলি নিপূণভাবে সক্ষম করতে সক্ষম।
ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ স্ক্যান (SEM)
SEM ইমেজিংয়ের জন্য আলোর পরিবর্তে একটি ইলেক্ট্রন মরীচি ব্যবহার করে। এটি ক্ষেত্রের মধ্যে একটি বড় গভীরতা রয়েছে যা ব্যবহারকারীদের নমুনা পৃষ্ঠার আরও বিস্তারিত চিত্র দেখতে সক্ষম করে। ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক সিস্টেম হিসেবে এএফএমের বর্ধমান পরিমাণে আরও নিয়ন্ত্রণ রয়েছে।
সিজমে, ইলেক্ট্রন বন্দুকের সাহায্যে ইলেকট্রনের মরীচি উত্পাদিত হয় এবং এটি মাইক্রোস্কোপের সাথে একটি উল্লম্ব পথের মধ্য দিয়ে যায় যা ভ্যাকুয়ামে স্থাপিত হয়। লেন্সের সাথে বৈদ্যুতিক এবং চৌম্বক ক্ষেত্রগুলি নমুনাতে ইলেকট্রন মরীচিকে ফোকাস করে। একবার ইলেক্ট্রন বিম নমুনা পৃষ্ঠে আঘাত করে, ইলেকট্রন এবং এক্স-রেগুলি নির্গত হয়। এই নির্গমনগুলির সনাক্ত করা এবং বিশ্লেষণ করার জন্য পর্দায় উপাদান ইমেজ স্থাপন। SEM এর রেজল্যুশন nanometer স্কেল হয় এবং এটি মরীচি শক্তি উপর নির্ভর করে।
যেহেতু SEM একটি ভ্যাকুয়ামে পরিচালিত হয় এবং ইমেজিং প্রক্রিয়ার ইলেকট্রনের ব্যবহার করে, তাই নমুনা প্রস্তুতিতে বিশেষ পদ্ধতি অনুসরণ করা উচিত। সি এম এর একটি দীর্ঘ দীর্ঘ ইতিহাস রয়েছে যা 1 935 সালে ম্যাক্স নোল দ্বারা প্রথম পর্যবেক্ষণ করা হয়েছিল। প্রথম বাণিজ্যিক SEM 1965 সালে পাওয়া যায়।
AFM এবং SEM এর মধ্যে পার্থক্য